半導体欠陥検査装置の市場規模、シェアおよび業界分析、タイプ別（ウエハ検査システム、マスク検査システム、レチクル検査システム、およびパッケージ検査システム）、技術別（光学検査、電子ビーム検査、X線検査、UVおよび赤外線検査）、アプリケーション別（集積回路、メモリデバイス、発光ダイオード（LED）、マイクロ電子機械システム）、エンドユーザー別（集積デバイスメーカー、半導体ファウンドリおよびテストホーム)、および地域予測、2026 ～ 2034 年